反射式光學膜厚儀是一款精準又好用的薄膜厚度測量設備。它能測低至20納米的超薄薄膜,測量誤差小于1納米,最快每秒可測100次,重復測量精度高達0.05納米。它采用雙光源組合,覆蓋紫外到紅外全光譜,抗干擾...
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多功能高精度激光測距儀水平距離/直線距離+垂直距+兩點測高+三點測高+空間任意兩點測量+面積體積測量+速度測量+溫度檢測+藍牙+APP+數據儲存。
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